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當免洗焊錫絲出現錫須現象所帶來的危害

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???1951年，Compton、Mendizza和Amold^【1】發(fā)現免洗焊錫絲出現錫須會導致電路短路，并導致電容器失效，這一問題引發(fā)人們對Sn晶須進行了長期深入而廣泛的研究。但是時至今日，Sn晶須現象還存在大量未解之謎，可以認為這一現象本身至今依然很神秘。

晶須是指在金屬表面生長出的細絲狀單晶，通常生長在厚度較小的金屬沉積層表面，而以含錫鍍層表面生長的Sn晶須最典型。由于材料內應力梯度的存在，免洗焊錫絲錫須的生長是一個自發(fā)的過程，但是，其生長速度與外部環(huán)境條件密切相關。

由免洗焊錫絲錫須導致的失效形式主要有4種^【2】；在低電壓下，由于電流比較小，錫須可以在領近不同電勢表面產生穩(wěn)定持久的短路；在高電壓下，當電流足夠高而超過Sn晶須的熔斷電流時，可以熔斷晶須從而導致瞬時短路；在航天器真空環(huán)境中，由錫須短路導致金屬蒸發(fā)放電，可形成一個穩(wěn)定的等離子電弧，并導致電子設備迅速毀壞；在震動環(huán)境中，晶須脫落會引發(fā)電路短路，同時還可造成精密機械的故障或破壞。歷史上由于晶須導致的失效故障很多，其中有一些甚至是災難性的故障。可見包括心臟起搏器、F15戰(zhàn)斗機雷達、火箭發(fā)動機、愛國者導彈、核武器等各種電子產品中都曾發(fā)生過因晶須問題導致的事故。值得指出的是，在衛(wèi)星等太空電子產品中也已經發(fā)生了數起由晶須問題引起的故障甚至嚴重事故。因此，Sn晶須問題成為無鉛化進程的一個重要的可靠性問題。這也是無鉛焊錫絲及所有無鉛焊錫產品進程的重要的可靠性問題。

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